鍍層膜厚儀是對加工業(yè)和精細工業(yè)產(chǎn)品表層進行測量使產(chǎn)品的質量達到的重要設備手段，我國為了使我們的產(chǎn)品能夠有化的水準對于鍍層膜厚儀都提出了非常明確高指標的要求，以此來規(guī)范的避免影響鍍層膜厚儀測量的因素，面小編來給大家介紹一下影響鍍層膜厚儀測量的因素。
　　一、基體金屬的選擇
　　基體金屬的選擇于試件的測試是息息相關的，首先專業(yè)的鍍層膜厚儀分有磁性方法和渦流方法，兩種方法對于鍍層膜厚儀的基體金屬標準片都有不一樣的磁性和電性要求，必須要對號入座的進行測量匹配，并且基體金屬的厚度對于我們的測量也有一定的影響。
　　二、測試時的環(huán)境和條件
　　鍍層膜厚儀一的測試本身是非常方便的，它的出現(xiàn)極大的提高了我們對于產(chǎn)品測量的效率，但是我們在測量的時候需要注意到測量的環(huán)境以及必要的測量條件，首先我們需要注意測量時周圍的磁場環(huán)境，磁場過高或不穩(wěn)定都會對我們的測量數(shù)據(jù)產(chǎn)生影響，其次潮濕的環(huán)境也是不利于我們的測量，而基體金屬標準片與試件本身的一些條件也會影響到我們的測量數(shù)據(jù)，例如鍍層膜厚儀基體金屬片表層的粗糙程度等等。
　　三、測量時的一些其它影響因素
　　我們在進行測量的時候要注意到試件表面要保持清潔不能有異物遮擋，并且即便是可信賴的鍍層膜厚儀在測量時也都容易受到一些突然變化的影響所以我們要避免在試件的曲面和邊緣進行測量。
　　我們選擇到了一個的度量測厚儀并不意味著我們的測量數(shù)據(jù)就會一定的準確，因為在測量過程中總會有一些細微的影響因素需要我們去注意，只有處理好這些影響因素才會使我們的鍍層膜厚儀能夠真正的發(fā)揮出其應有的作用。